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MBIST

第一章、Introduction to Tessent MBIST

第二章、Standard MBIST Flow

第三章、Clocks and Clock DRCs

第四章、DefaultsSpecification and DFTSpecification

第五章、MBIST Hierarchical Top level Flow

第六章、MBIST debug Patterns

第七章、Build-in Self Repair

第八章、Additional Topic

Scan chain

第一章 scan introduction and overriew

第二章 Scan testing and flows

第三章 Test protocol

第四章 DFT design rule checks

第五章 DFT DRC GUI debug

第六章 DRC fixing

第七章 Top-Down scan insertion

第八章 Core Wrapper insertion

第九章 Scan Export

第十章 On-chip clocking(OCC)

第十一章 Advanced scan topics

第十二章 bottom up scan insertion

第十三章 Test Compression

ATPG

第一章 ATPG introduction and overview

第二章 Tessent ATPG setup

第三章 Test procedure introduction

第四章 ATPG modes

第五章 Low-Power ATPG and Timing Exceptions

?第六章 Pattern Validation

第七章 Graybox Generation

第八章 chip-level pattern generation and retargeting

第九章 Diagnosis

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